Produktdetails:
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Genauigkeitsklasse: | 0,05 | Anwendung: | Mischen des Einheitstests |
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Herkömmlicher Spannungsbereich: | 0-120V | Herkömmlicher gegenwärtiger Test: | 0-20A |
Frequenztest: | 45-65HZ | Genauigkeit: | 0.002HZ |
Gewicht: | 7.5kgs | Maß: | 360x400x160mm |
Hervorheben: | Testgerät der Nebenstellen-65HZ,Nebenstellen-Testgerät 65HZ 20A,Prüfung 120V 65HZ von Relais in den Nebenstellen |
Mischen von Reihe des Einheits-Test-Systems MUE1
1. Zuverlässige Leistung
2. Weitverbreitet im intelligenten Nebenstellentest
3. Benutzerfreundliche TestProgrammschnittstelle
4. Hohe Stabilität und Genauigkeit
5. Genauigkeitsnachweisbarkeit vom hochrangigen Labor
6. Kompatibel mit IEC61850-9-1, IEC61850-9-2, IEC61850-9-2LE, Protokoll IEC60044-FT3
Sachwortverzeichnis
Genauigkeitsklasse | 0,05 |
Herkömmlicher Spannungstest | |
Strecke | 0-120V, Messbereich 100V, 100/√3V |
Justierbare Strecke u. Genauigkeit | 20%-150%, 0,05% |
Herkömmlicher gegenwärtiger Test | |
Strecke | 0-20A, Messbereich 5A u. 1A |
Justierbare Strecke u. Genauigkeit | 1%-120% |
Frequenztest | |
Strecke | 45-65HZ |
Genauigkeit | 0.002HZ |
Eingangsleistungstestgenauigkeit | |
Wirkleistung | 0,05 Klasse |
Blindleistung | 0,1 Klasse |
Schnittstelle aus optischen Fasern | |
Schnittstelle 1 Gruppe St. aus optischen Fasern | |
Senden von Energie | >-6dBm |
Optisch empfangen Sie Empfindlichkeit | -38dBm |
Synchronisiermeldung | |
Optischer Synchronisierungsinput u. -ertrag | 2Nos |
Optischer Ertrag der Synchronisierung IRIG-B (DC) | 1No |
Synchronisierungsausgabezeitgenauigkeit | besser als 100ns |
Stromversorgung | |
Eingangsspannung | AC220V±10%, 50/60Hz |
Leistungsaufnahme | <20w> |
Maß u. Gewicht: 360x400x160mm, 7.5KGS |
Eigenschaft
1) Unter Verwendung der Standardquelle der hohen Genauigkeit von 3 Phasen hohe Genauigkeit A-/Ddatenkollektor, Synchronisierung
Stempeluhreinheit, Wechselstrom-Probenahmegrundnorm und MU-Prüfungseinheit
2) Betriebsart: durch PC-Software
3) Unter Verwendung des höherwertig Synchronisierungsalgorithmus und 512times über Repräsentativtechnologie
4) Annahme von LabView-Sprache und von virtueller Instrumenttechnologie, freundliches HMI und bequem für Operation
5) Mit differenziellem Ertrag der Simulation
6) Genauigkeitsfehler und TIMING- u. Kommunikationsleistungsnachweis des Mischens der Einheit mit Sammlung von
mehrfache Kanäle digital oder Analogeingabe
7) Genauigkeitsfehlertest des Mischens der Einheit mit Analogeingabe der Sammlung mit herkömmlichem VT und CT
8) Genauigkeitsprüfung des Mischens der Einheit mit digitalem digitalem Input CT/VT
9) Genauigkeitsfehlertest digitalen CT VT und Kalibrierung des analogen Wertes
10) Streuungsgradtest des Probierens der Mitteilung
11) Integritätstest des Probierens der Mitteilung
12) Zeitvergleichsfehlertest des Mischens der Einheit
13) Zeit, die Fehlertest des Mischens der Einheit hält
14) Probieren des Antwortzeittests
15) Volle Rahmenmitteilungsanalyse
Ansprechpartner: Mr. Tony Han
Telefon: 86-15237157117
Faxen: 86-371-55692730